অণুবীক্ষণ যন্ত্ৰ

অসমীয়া ৱিকিপিডিয়াৰ পৰা
অণুবীক্ষণ যন্ত্ৰ
Uses ক্ষুদ্ৰ নিদৰ্শন নিৰীক্ষণ
Notable experiments
কোষৰ আৱিষ্কাৰ
Inventor জাকাৰিয়াছ জানছেন
Related items আলোক অণুবীক্ষণ যন্ত্ৰ ইলেক্ট্ৰন অণুবীক্ষণ যন্ত্ৰ
18th century microscopes from the Musée des Arts et Métiers, Paris
অণুবীক্ষণ যন্ত্ৰৰ প্ৰকাৰ

অণুবীক্ষণ যন্ত্ৰ (ইংৰাজী: Microscope) জীৱবিজ্ঞান অধ্যয়নৰ ক্ষেত্ৰত অতি গুৰুত্বপূৰ্ণ যন্ত্ৰ। অণুবীক্ষণ যন্ত্ৰৰ আৱিষ্কাৰ হোৱাৰ পিছতহে জীৱদেহ সৃষ্টিকাৰী কোষবোৰৰ বিষয়ে জানিব পৰা গৈছে। অণুবীক্ষণ যন্ত্ৰসমূহত ব্যৱহাৰ কৰা পোহৰৰ উৎসৰ ওপৰত ভিত্তি কৰি তিনিটা ভাগত ভগাব পাৰি: আলোক অণুবীক্ষণ যন্ত্ৰ (Light microscope), ৰঞ্জন ৰশ্মি অণুবীক্ষণ যন্ত্ৰ (X-ray microscope) আৰু ইলেকট্ৰন অণুবীক্ষণ যন্ত্ৰ (Electron microscope)।[1]

আলোক অণুবীক্ষণ যন্ত্ৰ[সম্পাদনা কৰক]

আলোক অণুবীক্ষণযন্ত্ৰত দেখা পোৱা বেক্টেৰিয়াৰ চিত্ৰ

যিবোৰ অণুবীক্ষণ যন্ত্ৰত সাধাৰণ পোহৰ ৰশ্মি ব্যৱহাৰ কৰি লক্ষ্যবস্তু পোহৰান্বিত (illuminate) কৰা হয় সেইবোৰক আলোক অণুবীক্ষণ যন্ত্ৰ বোলে। কেইটামান আলোক অণুবীক্ষণ যন্ত্ৰ:

যৌগিক অণুবীক্ষণ যন্ত্ৰ (Compound microscope)

এই ধৰণৰ অণুবীক্ষণ যন্ত্ৰত তিনি ধৰণৰ লেন্স ব্যৱহাৰ কৰা হয়। যেনে সংঘনক লেন্স (condenser lens), অভিলক্ষ্য লেন্স (objective lens) আৰু অভিনেত্ৰ লেন্স (ocular lans)।

অণুবীক্ষণ যন্ত্ৰটোৰ তলফালেদি পোহৰ আহিবৰ বাবে এখন পোহৰ প্ৰতিফলন দাপোণ থাকে। সংঘনক লেন্সখন দাপোনৰ ওপৰফালে আৰু লক্ষ্যবস্তুৰ তলফালে অৱস্থিত। এই লেন্সখনে পোহৰ ৰশ্মি ঘনীভূত কৰি অণুবীক্ষণ যন্ত্ৰটোৰ ভিতৰলৈ পঠিয়াই দিয়ে। দ্বিতীয়খন লেন্স অৰ্থাৎ অভিলক্ষ্য লেন্সখন লক্ষ্য বস্তুৰ ওপৰৰফালে অৱস্থিত। এই লেন্সখন উত্তল আৰু অৱতল লেন্সৰ সমন্বয়ত গঠিত। এই লেন্সখনে লক্ষ্যবস্তুৰ বৰ্দ্ধিত আৰু আচল (real) প্ৰতিবিম্ব গঠন কৰে। বেছিভাগ যৌগিক অণুবীক্ষণ যন্ত্ৰতে তিনি ধৰণৰ অভিলক্ষ্য লেন্স থাকে - নিম্ন ক্ষমতাসম্পন অভিলক্ষ্য লেন্স (10×/16 মি.মি.), উচ্চ ক্ষমতাসম্পন অভিলক্ষ্য লেন্স (44×/4মি.মি.)আৰু অতি উচ্চ ক্ষমতাসম্পন বা তৈল নিমজিত (oil immersion) অভিলক্ষ্য লেন্স (95×/1.8 মি.মি.)। ইয়াৰে 10×, 44× আৰু 95× -এ অভিলক্ষ্য লেন্সৰ বিবৰ্দ্ধন (magnification) ক্ষমতা বুজায় আৰু 16 মি.মি., 4 মি.মি. আৰু 1.8 মি.মি.- এ লেন্সৰ নাভি দূৰত্ব (focal length) বুজায়।[1]

ফেজ কণ্ট্ৰাষ্ট অণুবীক্ষণ যন্ত্ৰ (Phase contrast microscope)

ই এক প্ৰকাৰৰ আলোক যৌগিক অণুবীক্ষণ যন্ত্ৰ। কোষৰ ভিতৰত থকা বিভিন্ন অংগিকাসমূ্হ স্পষ্টকৈ চোৱাৰ বাবে এই অণুবীক্ষণ যন্ত্ৰ ব্যৱহাৰ কৰা হয়। কোষ অৰ্দ্ধজুলীয়া পদাৰ্থৰে গঠিত হ'লেও তাৰ ভিতৰত থকা বিভিন্ন অংগিকাসমূহৰ ঘমত্ব কম-বেছি আৰু সেয়েহে এই অংগিকাসমূহৰ পোহৰ প্ৰতিসৰণাংকও বেলেগ বেলেগ হয়। পোহৰ প্ৰতিসৰণাংক কম-বেছি হোৱা বাবে চকুত পৰা পোহৰৰ উজ্জ্বলতাও কম-বেছি হয়। ফলত বিভিন্ন অংগিকাসমূহৰ মাজৰ প্ৰভেদখিনি ওলাই পৰে।[1]

স্ফুৰদীপ্তি অণুবীক্ষণ যন্ত্ৰ (Fluorescence microscope)

এই ধৰণৰ অণুবীক্ষণ যন্ত্ৰত অতি বেঙুনীয়া ৰশ্মি (ultra violet) ব্যৱহাৰ কৰি লক্ষ্যবস্তু উদ্দীপ্ত কৰা হয়। লক্ষ্যবস্তু বিভিন্ন প্ৰকাৰৰ ফ্লুঅ'ৰিছেণ্ট (fluorescent) ৰঞ্জক পদাৰ্থ দি ৰঞ্জিত কৰা হয় আৰু পিছত অণুবীক্ষণ যন্ত্ৰৰ তলত ৰাখি তাৰ মাজেদি অতি বেঙুনীয়া ৰশ্মি পঠিয়ালে বিভিন্ন ধৰণৰ কম নাইবা বেছি তৰংগ দৈৰ্ঘ্যযুক্ত ৰশ্মি বিচ্ছুৰিত হয়। এই বিচ্ছুৰিত পোহৰ ৰশ্মি অধ্যয়ন কৰি কোষত থকা ৰাসায়নিক পদাৰ্থসমূহ, যেনে: পত্ৰহৰিৎ, ফ্লেভিন, ডি এন এ, আৰ এন এ আদিৰ উপস্থিতি নিশ্চিত কৰিব পাৰি।[1]

ডাৰ্ক ফিল্ড অণুবীক্ষণ যন্ত্ৰ (Dark field microscope)

এইধৰণৰ অণুবীক্ষণ যন্ত্ৰৰ সংঘনক (condenser) বিশেষভাৱে তৈয়াৰী। এই সংঘনকখনৰ সহায়ত পোহৰ অণুবীক্ষণীয় ক্ষেত্ৰৰ পৰা আঁতৰ কৰি কেৱলমাত্ৰ লক্ষ্যবস্তুত পেলোৱা হয়। ইয়াৰ ফলত লক্ষ্যবস্তুৰ বাহিৰে বাকী অণুবীক্ষণ ক্ষেত্ৰ এন্ধাৰ হৈ পৰে। কোষ, কোষকেন্দ্ৰ, মাইট'কণ্ড্ৰিয়া, ভেকুঅ'ল আদিৰ পৰিসীমা চিনাক্ত কৰিবৰ বাবে এইবিধ অণুবীক্ষণ যন্ত্ৰ বিশেষভাৱে উপযোগী।

অতি বেঙুনীয়া অণুবীক্ষণ যন্ত্ৰ (Ultra violet microscope)

এইধৰণৰ অণুবীক্ষণ যন্ত্ৰত লক্ষ্যবস্তু উদ্দীপ্ত কৰিবলৈ সাধাৰণ পোহৰ ৰশ্মিৰ লগতে অতি বেঙুনীয়া ৰশ্মি ব্যৱহাৰ কৰা হয়। অতি বেঙুনীয়া ৰশ্মিৰ পোহৰ তৰংগ চুটি আৰু ই কাঁচৰ লেন্সৰ মাজেৰে পাৰ হৈ যাব নোৱাৰে। সেয়েহে এই অণুবীক্ষণ যন্ত্ৰত সাধাৰণ কাঁচৰ লেন্সৰ সলনি কাঁচেৰে নিৰ্মিত ক'ৱাৰ্টজ (quartz) লেন্স ব্যৱহাৰ কৰা হয়। সাধাৰণ আলোক অণুবীক্ষণ যন্ত্ৰত ব্যৱহাৰ কৰা কাঁচৰ লেন্সদি 400০Å তকৈ কম দৈৰ্ঘ্যৰ তৰংগ পাৰ হৈ যাব নোৱাৰে। কিন্তু ক'ৱাৰ্টজ লেন্স ব্যৱহাৰ কৰিলে 2000-4000Å দৈৰ্ঘ্যৰ অতি বেঙুনীয়া ৰশ্মি পাৰ হ'ব পাৰে। ফলত অণুবীক্ষণ যন্ত্ৰৰ ক্ষমতা বাঢ়ি যায়। এই অণুবীক্ষণ যন্ত্ৰত সৃষ্টি হোৱা প্ৰতিবিম্ব চকুৰে দেখা নাযায় আৰু ইয়াক ফ'ট'প্লেটত ধৰা হয়। কোষৰ ধৰ্ম তথা গুণাগুণ এই অণুবীক্ষণ যন্ত্ৰৰ সহায়ত অধ্যয়ন কৰিব পাৰি।[1]

সমাবৰ্তন অণুবীক্ষণ যন্ত্ৰ (Polarizing microscope)

সমাবৰ্তন অণুবীক্ষণ যন্ত্ৰ এক উন্নত ধৰণৰ অণুবীক্ষণ যন্ত্ৰ। এই অণুবীক্ষণ যন্ত্ৰত ধ্ৰুবিত (polarised) পোহৰ ব্যৱহাৰ কৰা হয়। ইয়াৰ সহায়ত কোষৰ ভিতৰত থকা অতি সূক্ষ্ম অংশবোৰ (ultra structures) অধ্যয়ন কৰিব পাৰি। কোষৰ ভিতৰত থকা জুলীয়া পদাৰ্থৰ গাঢ়তা, ঘনত্ব আৰু কোষীয় পদাৰ্থবোৰ কিমান ডাঠ সেই বিষয়ে অধ্যয়ন কৰিব পাৰি।

চক্ৰব্যাহত অণুবীক্ষণ যন্ত্ৰ (Interference microscope)

এই ধৰণৰ অণুবীক্ষণ যন্ত্ৰত দুটা পোহৰ ৰশ্মি ব্যৱহাৰ কৰা হয়। এটা পোহৰ ৰশ্মি লক্ষ্যবস্তুৰ মাজেৰে আৰু আনটো লক্ষ্যবস্তুৰ কাষেৰে গতি কৰে। এই দুয়োটা পোহৰ ৰশ্মি লক্ষ্যবস্তুৰ ওপৰৰ ফালে আহি মিলিত হয়। ফলত লক্ষ্যবস্তুৰ প্ৰতিসৰণাংক (refractiv index) ৰ ওপৰত নিৰ্ভৰ কৰি বিপৰ্যাস্য (contrast) প্ৰতিবিম্ব এটাৰ সৃষ্টি হয়। গতিকে লক্ষ্যবস্তুৰ সঠিক আকাৰ এই অণুবীক্ষণ যন্ত্ৰৰ সহায়ত নিৰ্ণয় কৰিব পাৰি।

ৰঞ্জন ৰশ্মি অণুবীক্ষণ যন্ত্ৰ[সম্পাদনা কৰক]

এই ধৰণৰ অণুবীক্ষণ যন্ত্ৰত তৰংগ দৈৰ্ঘ্যৰ ৰঞ্জন ৰশ্মি ব্যৱহাৰ কৰা হয়। ৰঞ্জন ৰশ্মিৰ প্ৰৱেশ ক্ষমতা (penetration) সাধাৰণ পোহৰতকৈ অধিক। সেয়েহে এই ৰশ্মি ব্যৱহাৰ কৰি অতি ক্ষুদ্ৰ জৈৱিক পদাৰ্থবোৰৰ গঠনো নিৰ্ণয় কৰিব পাৰি। কোষৰ সূক্ষ্ম তথা বৃহৎ অণুবোৰৰ ত্ৰি-মাত্ৰিক (three dimensional) আকৃতি পৰ্যৱেক্ষণৰ বাবে এনেধৰণৰ অণুবীক্ষণ যন্ত্ৰ অতি উপযোগী। এই যন্ত্ৰৰ সহায়ত লাইছ'জ'ম (lysosome), হিম’গ্ল’বিন, ডি এন এ আদিৰ আকৃতি নিৰ্ণয় কৰিব পাৰি।[1]

ইলেকট্ৰন অণুবীক্ষণ যন্ত্ৰ[সম্পাদনা কৰক]

ইলেকট্ৰেন অণুবীক্ষণ যন্ত্ৰত লক্ষ্যবস্তু উদ্ভাসিত কৰিবলৈ ইলেকট্ৰন ৰশ্মি ব্যৱহাৰ কৰা হয়। এই ইলেকট্ৰনৰ উৎস হ'ল বিদ্যুত শক্তিৰদ্বাৰা উত্তপ্ত কৰা টাংষ্টেন ধাতুৰ তন্তু (tungsten)। ইলেকট্ৰনবোৰ হ'ল আধানিত কণা (charged particle), গতিকে সিহঁতে চৌম্বিক ক্ষেত্ৰৰ প্ৰতি বিশেষ সঁহাৰি জনায়। ইলেকট্ৰন অণুবীক্ষণ যন্ত্ৰত কাঁচৰ সংঘনক (condenser) ৰ পৰিৱৰ্তে শক্তিশালী চুম্বক ব্যৱহাৰ কৰা হয়।

১৯৩৮ চনত ফন বৰিছ আৰু ৰাছকা (Von Borris and Ruska) নামৰ দুজন জাৰ্মানদেশীয় বৈজ্ঞানিকে অণুবীক্ষণ যন্ত্ৰত ইলেকট্ৰন ৰশ্মি ব্যৱহাৰ কৰা পদ্ধতি উলিয়ায় আৰু তেওঁলোকে এটা ইলেকট্ৰন অণুবীক্ষণ যন্ত্ৰ সাজি উলিয়ায়।

ইলেকট্ৰন অণুবীক্ষণ যন্ত্ৰ দুইধৰণৰ: সংচাৰণ ইলেকট্ৰন অণুবীক্ষণ যন্ত্ৰ (transmission electron microscope) আৰু স্কেনিং ইলেকট্ৰন অণুবীক্ষণ যন্ত্ৰ (scanning electron microscope)। স্কেনিং ইলেকট্ৰন অণুবীক্ষণ যন্ত্ৰ হ'ল ইলেকট্ৰন অণুবীক্ষণ যন্ত্ৰৰ উন্নত ৰূপ।

তথ্য সংগ্ৰহ[সম্পাদনা কৰক]

  1. 1.0 1.1 1.2 1.3 1.4 1.5 "উচ্চতৰ মাধ্যমিক প্ৰাথমিক জীৱবিদ্যা" লেখক - কৰুণা কান্ত দাস আৰু ড॰ অনুপ কুমাৰ চক্ৰবৰ্ত্তী। প্ৰকাশক - শ্ৰী শান্তিৰঞ্জন দে, বীণা লাইব্ৰেৰী, কলেজ হোষ্টেল ৰোড, পানবজাৰ, গুৱাহাটী -৭৮৭০০১, অসম, পৃষ্ঠা নং : ৪৪।

বাহ্যিক সংযোগ[সম্পাদনা কৰক]